技術名稱 利用金屬奈米結構與對比式表面電漿影像技術進行藥物毒性定量分析
計畫單位 中央研究院
計畫主持人 魏培坤
技術簡介
藥物毒性半數抑制濃度為量化藥物效力的重要藥理參數。我們發展一種不需要標定的對比式表面電漿共振成像技術評估藥物對細胞產生的毒性。與傳統的細胞增殖數量檢測套組與細胞活性螢光染色法相比,成像檢測平台所得到的數值結果高度一致。可準確用來量測黏附細胞型細胞之IC₅₀,且達到高通量及無須標記的特性。
科學突破性
表面電漿共振的高靈敏度與即時性在生醫領域中具有極大潛力,其昂貴設備成本限制了其普及應用。我們開發結合專利奈米電漿子晶片與影像對比技術的新平台,實現了免標定、高靈敏度、低成本且具商業潛力的檢測系統。此平台利用大量製造的奈米結構與簡易影像化裝置,已獲得多國專利,展現高通量檢測與細胞活性量測上的實際應用。
產業應用性
一種結合專利奈米電漿子晶片與影像對比技術的新型表面電漿共振檢測平台,具備免標定、高靈敏度、低成本優勢。此技術可廣泛應用於生醫領域,特別是藥物開發中常用的濃度測定,提供高通量且精確的藥物效力評估,對藥物篩選具高度市場價值。此平台也適用於進行分子交互作用分析、污染物監測與食品安全檢測等。
關鍵字 半數抑制濃度 藥物細胞毒性 即時無標記檢測 表面電漿共振 奈米電漿子晶片 SPR影像化技術 細胞動態分析 非侵入式感測 射出成型製程 高通量分析
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  • 魏培坤