技術名稱 小型電離層探測儀
計畫單位 國立中央大學
計畫主持人 趙吉光
技術簡介
小型電離層探測儀(CIP)首創以單一探測器,達成量測多種電漿特性的儀器。以分時方式,量測完整的電離層電漿特性(如
離子密度、離子速度、離子溫度、電子溫度)。以最高取樣率(1,024 Hz)量測電漿不規則體細微結構。
科學突破性
小型電離層探測儀為全球最輕巧的實地探測電離層電漿不規則體的科學酬載,質量僅 400 公克,體積為 0.7 U,可量測完整電離層電漿特性,偵測造成太空通訊與導航失效的電漿密度不規則體,進而維護全球通訊品質與導航安全。可放置在 INSPIRESat, IDEASSat, SCION 等立方衛星,並已在福
產業應用性
全球衛星網路(SpaceX, OneWeb, Telesat, Amazon)的電波傳播的路徑必定會通過電離層,自駕車(Tesla, Google)與自駕客機(Boeing, Airbus)導致公分級的導航資訊與安全需求。CIP 星系的佈建將是監測電離層電漿不規則體不可或缺的利器,以維護全球太空通訊
關鍵字 小型電離層探測儀 先進電離層探測儀 立方衛星 福衛五號 科學酬載 電離層 電漿不規則體 太空科學 衛星 立方衛星
備註
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  • 趙吉光