本分析儀整合顯微取像與高光譜模組，以 AI 影像深度學習解析材料光譜資訊，具微米級定位與顯微成像能力，並可進行光譜影像定量分析。有別於一般僅定性分析的高光譜儀，可量測穿透率、反射率與吸收率等物理參數，適用於微奈米材料與生物組織之精密顯微影像分析。

本系統結合顯微成像與高光譜技術，導入 AI 深度學習進行光譜解析，突破傳統僅能定性分析限制，實現微米級空間解析與物理參數定量量測，提升微奈米材料與生醫影像分析能力。

本技術可應用於半導體製程檢測、光電顯示材料分析與生醫影像診斷，支援晶圓、薄膜及生醫組織之光學特性量測。透過 AI 光譜解析與顯微高光譜整合，可導入產線自動化檢測與品質控制，加速新材料開發與製程優化，提升半導體與精密製造產業良率與效率。