本技術提出一種高安全性之晶片測試架構防護技術，可以在測試時以動態方式產生密鑰，在不降低系統性能和可測試特性的情況下，本技術可有效抵禦針對掃描鏈和記憶體的攻擊。且由於本技術之動態特性，其安全等級遠高於所有現有技術，且無論攻擊者嘗試多少次密鑰猜測，本技術之安全等級亦不會降低。

1. 使用動態密鑰並維持在相當高的安全等級。
2. 相同的非法測試向量，所產生的偽響應會相同，讓攻擊者無法觀測及分析正確的測試響應。
3. 將動態密鑰種子合併於測試向量中，因此不需額外密鑰輸入腳位，使攻擊者無法知道此架構是否含有安全性設計。
4. 從製造測試到現場測試皆不需分享密鑰給測試人員。

可廣泛應用於通訊、車用、家電、消費性電子等產品之晶片測試架構